Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Mass., U.S.A
Finna-arvio
Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Mass., U.S.A
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
532 sivua : kuvitettu |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
Pittsburg, Pa. :
Materials Research Society,
1987.
|
| Sarja | Materials Research Society symposia proceedings, Vol. 82. |
| Luokitus | |
| Lisätiedot | ed.: Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair |
| ISBN |
0-931837-47-2 |
| Hae kokoteksti | |