Software test attacks to break mobile and embedded devices
Finna-arvio
Software test attacks to break mobile and embedded devices
Tallennettuna:
Ulkoasu |
xxxiii, 343 pages : kuvitettu ; 26 cm |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Julkaisija |
Boca Raton :
Taylor & Francis,
cop. 2014.
|
Sarja | Chapman & Hall/CRC innovations in software engineering and software development series |
Luokitus | |
Dewey-luokitus |
005.8 |
Aiheet | |
Lisätiedot | Jon Duncan Hagar |
Bibliografia |
Includes bibliographical references and index. |
ISBN |
978-1-4665-7530-1 paperback |
Hae kokoteksti |