Particle-induced X-ray emission spectrometry (PIXE)
Finna-arvio
Particle-induced X-ray emission spectrometry (PIXE)
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
451 s |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
New York :
Wiley,
cop. 1995.
|
| Sarja | Chemical analysis, vol. 133. |
| Luokitus | |
| Aiheet | |
| Lisätiedot | edited by Sven A. E. Johansson, John L. Campbell, Klas G. Malmqvist |
| ISBN |
0-471-58944-6 sidottu |
| Hae kokoteksti | |