Untersuchungen ultradünner Vanadium- und Palladium-Schichten auf W[110] mit LEED, AES, TDS und CPD
Untersuchungen ultradünner Vanadium- und Palladium-Schichten auf W[110] mit LEED, AES, TDS und CPD
Tallennettuna:
Kieli |
saksa |
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Alkuteoksen kieli |
saksa |
Julkaisija |
Köln,
1991.
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Opinnäyte | Väitöskirja Universität zu Köln |