SEM microcharacterization of semiconductors
Finna-arvio
SEM microcharacterization of semiconductors
Tallennettuna:
Ulkoasu |
452 sivua : kuvitettu |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Julkaisija |
London :
Academic Press,
1989.
|
Sarja | Techniques of physics, 12 |
Luokitus | |
Lisätiedot | Edited by D. B. Holt, D. C. Joy |
ISBN |
0-12-353855-6 sidottu |
Hae kokoteksti |