Photoinduced defects in semiconductors
Finna-arvio
Photoinduced defects in semiconductors
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
217 sivua |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
Cambridge :
Cambridge University Press,
1996.
|
| Sarja | Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering, 4. |
| Luokitus | |
| Lisätiedot | David Redfield and Richard H. Bube |
| ISBN |
0-521-46196-0 |
| Hae kokoteksti | |