Statistical analysis with arcview GIS®
Finna-arvio
Statistical analysis with arcview GIS®
Tallennettuna:
Ulkoasu |
xi, 192 sivua : kuvitettu, karttoja |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Julkaisija |
New York :
John Wiley,
2001.
|
Luokitus | |
Aiheet | |
Lisätiedot | Jay Lee, David W.S. Wong |
Bibliografia |
Sisältää bibliografisia viitteitä (s. 189) ja hakemiston. |
ISBN |
0-471-34874-0 kovakantinen |
Hae kokoteksti |