Numerical simulations of defect modeling in semiconductor radiation detectors
Numerical simulations of defect modeling in semiconductor radiation detectors
Sparad:
Genre | |
---|---|
Fysisk beskrivning |
72 sivua, 45 sivua useina numerointijaksoina, 4 numeroimatonta sivua : kuvitettu ; 25 cm |
Språk |
engelska |
Originalverkets språk |
engelska |
Beskrivning |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 4 eripainosta. |
Förlag |
Lappeenranta :
Lappeenranta-Lahti University of Technology LUT,
[2022]
|
Lärdomsprov | Väitöskirja : Lappeenrannan-Lahden teknillinen yliopisto LUT, 2022 |
Serie | Acta Universitatis Lappeenrantaensis, ISSN 1456-4491; 1050. |
Klassifikation | |
Ämnen | |
Tillverkare | LUT University Press, 2022. |
Mer information | Maria Golovleva |
Verkkoaineisto |
978-952-335-877-5 |
ISBN |
978-952-335-876-8 pehmeäkantinen |
Hämta fulltext |