Numerical simulations of defect modeling in semiconductor radiation detectors
Numerical simulations of defect modeling in semiconductor radiation detectors
Tallennettuna:
| Genre | |
|---|---|
| Ulkoasu |
72 sivua, 45 sivua useina numerointijaksoina, 4 numeroimatonta sivua : kuvitettu ; 25 cm |
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Huomautukset |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 4 eripainosta. |
| Julkaisija |
Lappeenranta :
Lappeenranta-Lahti University of Technology LUT,
[2022]
|
| Opinnäyte | Väitöskirja : Lappeenrannan-Lahden teknillinen yliopisto LUT, 2022 |
| Sarja | Acta Universitatis Lappeenrantaensis, ISSN 1456-4491; 1050. |
| Luokitus | |
| Aiheet | |
| Valmistaja | LUT University Press, 2022. |
| Lisätiedot | Maria Golovleva |
| Verkkoaineisto |
978-952-335-877-5 |
| ISBN |
978-952-335-876-8 pehmeäkantinen |
| Hae kokoteksti | |