Numerical simulations of defect modeling in semiconductor radiation detectors
Numerical simulations of defect modeling in semiconductor radiation detectors
Saved in:
| Genre | |
|---|---|
| Physical Description |
72 sivua, 45 sivua useina numerointijaksoina, 4 numeroimatonta sivua : kuvitettu ; 25 cm |
| Language |
English |
| Language of Original Work |
English |
| Item Description |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 4 eripainosta. |
| Published |
Lappeenranta :
Lappeenranta-Lahti University of Technology LUT,
[2022]
|
| Dissertation Note | Väitöskirja : Lappeenrannan-Lahden teknillinen yliopisto LUT, 2022 |
| Series | Acta Universitatis Lappeenrantaensis, ISSN 1456-4491; 1050. |
| Classification | |
| Subjects | |
| Manufacturer | LUT University Press, 2022. |
| Additional Information | Maria Golovleva |
| Verkkoaineisto |
978-952-335-877-5 |
| ISBN |
978-952-335-876-8 pehmeäkantinen |
| Get full text | |