Layout optimization and reliability studies of CMOS passive components
Layout optimization and reliability studies of CMOS passive components
Tallennettuna:
Genre | |
---|---|
Ulkoasu |
ix, 46, [56] sivua : kuvitettu ; 25 cm |
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Julkaisija |
Tampere :
Tampere University of Technology,
2007
|
Opinnäyte | Väitöskirja : Tampereen teknillinen yliopisto |
Sarja | Publication / Tampere University of Technology, ISSN 1459-2045; 663. |
Luokitus | |
Valmistaja | (Tampereen Yliopistopaino) |
Lisätiedot | Päivi Karjalainen |
ISBN |
978-952-15-1771-6 nidottu |
Hae kokoteksti |