Excess coincidences of spontaneous and stimulated x rays
Finna-arvio
Excess coincidences of spontaneous and stimulated x rays
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
16, [2] sivua ; 26 cm |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
Espoo :
Helsinki University of Technology, Metrology Research Institute,
2003
|
| Sarja | Metrology Research Institute report, ISSN 1237-3281; 22. |
| Luokitus | |
| Valmistaja | (Helsinki : Picaset) |
| Lisätiedot | E. Ikonen |