Development of instrumentation and methods for positron spectroscopy of defects in semiconductors
Development of instrumentation and methods for positron spectroscopy of defects in semiconductors
Sparad:
| Genre | |
|---|---|
| Fysisk beskrivning |
iv, 31, [57] sivua : kuvitettu ; 25 cm |
| Språk |
engelska |
| Originalverkets språk |
engelska |
| Beskrivning |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 6 eripainosta. |
| Förlag |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
2001
|
| Lärdomsprov | Väitöskirja Espoo : Teknillinen korkeakoulu |
| Serie | Dissertation / Laboratory of Physics, Helsinki University of Technology, ISSN 1455-1802; 113. |
| Klassifikation | |
| Tillverkare | (Otamedia) |
| Mer information | Jaani Nissilä |
| ISBN |
951-22-5467-0 nidottu 951-22-5468-9 verkkoaineisto |
| Hämta fulltext | |