Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Sparad:
| Genre | |
|---|---|
| Fysisk beskrivning |
52 sivua : kuvitettu ; 25 cm |
| Språk |
engelska |
| Originalverkets språk |
engelska |
| Beskrivning |
Väitöskirjan tiivistelmäosa |
| Förlag |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
1997
|
| Lärdomsprov | Väitöskirja Espoo : Teknillinen korkeakoulu |
| Serie | Dissertation / Laboratory of Physics, Helsinki University of Technology, ISSN 1455-1802; 104. |
| Klassifikation | |
| Tillverkare | (Libella) |
| Mer information | Hannu Kauppinen |
| ISBN |
951-22-3761-X nidottu |
| Hämta fulltext | |