Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Tallennettuna:
| Genre | |
|---|---|
| Ulkoasu |
52 sivua : kuvitettu ; 25 cm |
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Huomautukset |
Väitöskirjan tiivistelmäosa |
| Julkaisija |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
1997
|
| Opinnäyte | Väitöskirja Espoo : Teknillinen korkeakoulu |
| Sarja | Dissertation / Laboratory of Physics, Helsinki University of Technology, ISSN 1455-1802; 104. |
| Luokitus | |
| Valmistaja | (Libella) |
| Lisätiedot | Hannu Kauppinen |
| ISBN |
951-22-3761-X nidottu |
| Hae kokoteksti | |