Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Tallennettuna:
Genre | |
---|---|
Ulkoasu |
52 sivua : kuvitettu ; 25 cm |
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Huomautukset |
Väitöskirjan tiivistelmäosa |
Julkaisija |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
1997
|
Opinnäyte | Väitöskirja Espoo : Teknillinen korkeakoulu |
Sarja | Dissertation / Laboratory of Physics, Helsinki University of Technology, ISSN 1455-1802; 104. |
Luokitus | |
Valmistaja | (Libella) |
Lisätiedot | Hannu Kauppinen |
ISBN |
951-22-3761-X nidottu |
Hae kokoteksti |