Synchrotron X-ray topography of semiconductors
Synchrotron X-ray topography of semiconductors
Sparad:
| Genre | |
|---|---|
| Fysisk beskrivning |
55, [64] sivua : kuvitettu ; 25 cm |
| Språk |
engelska |
| Originalverkets språk |
engelska |
| Beskrivning |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 7 eripainosta. - Nimiösivulla myös: Optoelectronics Laboratory, Helsinki University of Technology |
| Förlag |
[Espoo] :
[Helsinki University of Technology],
1997.
|
| Lärdomsprov | Väitöskirja Espoo : Teknillinen korkeakoulu |
| Klassifikation | |
| Mer information | Eetu Prieur |
| ISBN |
951-22-3374-6 nidottu |
| Hämta fulltext | |