Metrological applications of Fourier transform spectroscopy and polarization stabilization of HeNe lasers
Metrological applications of Fourier transform spectroscopy and polarization stabilization of HeNe lasers
Tallennettuna:
Ulkoasu |
38, [57] sivua : kuvitettu ; 25 cm |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Huomautukset |
Nimiösivulla myös: Helsinki University of Technology, Faculty of Electrical Engineering, Metrology Research Institute. Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 7 eripainosta. - Tiivistelmä ilm. myös erillisenä |
Julkaisija |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
1992
|
Opinnäyte | Väitöskirja Espoo : Teknillinen korkeakoulu |
Luokitus | |
Valmistaja | (Helsinki : Yliopistopaino) |
Lisätiedot | Marja-Leena Junttila |
ISBN |
951-22-1244-7 nidottu |
Hae kokoteksti |