Pyyhkäisyelektronimikroskopian ja mikroanalyysin (EDS/WDS) perusteet. Osa 1, Pyyhkäisyelektronimikroskopia
Finna-arvio
Pyyhkäisyelektronimikroskopian ja mikroanalyysin (EDS/WDS) perusteet. Osa 1, Pyyhkäisyelektronimikroskopia
Tallennettuna:
Ulkoasu |
30, [20] lehteä : kuvitettu ; 30 cm |
---|---|
Kieli |
suomi |
Alkuteoksen kieli |
suomi |
Julkaisija |
Otaniemi :
Teknillinen korkeakoulu,
1990.
|
Sarja | Report / Teknillinen korkeakoulu, prosessi- ja materiaalitekniikan osasto, materiaali- ja kalliotekniikan laitos. C, ISSN 0785-5176; 103 |
Luokitus | |
Aiheet | |
Lisätiedot | Risto Suominen, Erkki Heikinheimo |
ISBN |
951-22-0226-3 nidottu |
Standardinumero |
Report TKK-V-C103 |
Hae kokoteksti |