Inelastic x-ray scattering including resonance phenomena
Finna-arvio
Inelastic x-ray scattering including resonance phenomena
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
65, [7] sivua : kuvitettu ; 21 cm |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
1983.
|
| Sarja | Report / Helsinki University of Technology. Laboratory of Physics, ISSN 0359-6214; 123 |
| Luokitus | |
| Lisätiedot | T. Åberg and J. Tulkki |