Multiple diffraction lines in the synchrotron x-ray topographs of elastically bent silicon single crystals
Finna-arvio
Multiple diffraction lines in the synchrotron x-ray topographs of elastically bent silicon single crystals
Tallennettuna:
Ulkoasu |
[2], 8, [2] sivua : kuvitettu ; 21 cm |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Julkaisija |
[Espoo] :
[Helsinki University of Technology],
1981.
|
Sarja | Report / Helsinki University of Technology. Laboratory of Physics, P, 1981, 6. |
Luokitus | |
Lisätiedot | T. Tuomi and K. Naukkarinen |