Multiple diffraction lines in the synchrotron x-ray topographs of elastically bent silicon single crystals
Finna-arvio
Multiple diffraction lines in the synchrotron x-ray topographs of elastically bent silicon single crystals
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
[2], 8, [2] sivua : kuvitettu ; 21 cm |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
[Espoo] :
[Helsinki University of Technology],
1981.
|
| Sarja | Report / Helsinki University of Technology. Laboratory of Physics, P, 1981, 6. |
| Luokitus | |
| Lisätiedot | T. Tuomi and K. Naukkarinen |