Födelsedatum	1990
Yrke	tutkija
Verksamhetsområde	fysiikka röntgensäteily laskentamenetelmät mittausmenetelmät
Relaterade platser	Helsinki, Suomi
Identifikationskoder	0000000502670814 (isni) http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:finaf:000213905 (finaf)
Källor	Elastic deformation and X-ray diffraction properties of toroidally bent crystal wafers, 2020
Tillhörighet till grupp	Helsingin yliopisto. Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta (-)