Syntymäaika	1990
Ammatti	tutkija
Toimiala	fysiikka röntgensäteily laskentamenetelmät mittausmenetelmät
Liittyvät paikat	Helsinki, Suomi
Tunnisteet	0000000502670814 (isni) http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:finaf:000213905 (finaf)
Lähteet	Elastic deformation and X-ray diffraction properties of toroidally bent crystal wafers, 2020
Yhteys ryhmään	Helsingin yliopisto. Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta (-)