Date of birth	1990
Occupation	tutkija
Field of Activity	fysiikka röntgensäteily laskentamenetelmät mittausmenetelmät
Associated Locations	Helsinki, Suomi
Identifiers	0000000502670814 (isni) http://urn.fi/URN:NBN:fi:au:finaf:000213905 (finaf)
Sources	Elastic deformation and X-ray diffraction properties of toroidally bent crystal wafers, 2020
Associated Groups	Helsingin yliopisto. Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta (-)