Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Sparad:
Genre | |
---|---|
Fysisk beskrivning |
52 sivua : kuvitettu ; 25 cm |
Språk |
engelska |
Beskrivning |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 6 eripainosta. - Tiivistelmä erillisenä Väitöskirjan tiivistelmäosa |
Förlag |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
1997
|
Lärdomsprov | Väitöskirja : Teknillinen korkeakoulu, Espoo |
Serie | Dissertation / Laboratory of Physics, Helsinki University of Technology, ISSN 1455-1802; 104. |
Klassifikation | |
Ämnen | |
Tillverkare | (Libella) |
Mer information | Hannu Kauppinen |
ISBN |
951-22-3761-X nidottu |
Standardnummer |
TKK-DISS-1190 |
Hämta fulltext |