Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Identification of point defect structures in semiconductors by positron annihilation : application to silicon and compound semiconductors
Tallennettuna:
Genre | |
---|---|
Ulkoasu |
52 sivua : kuvitettu ; 25 cm |
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Huomautukset |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 6 eripainosta. - Tiivistelmä erillisenä Väitöskirjan tiivistelmäosa |
Julkaisija |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
1997
|
Opinnäyte | Väitöskirja : Teknillinen korkeakoulu, Espoo |
Sarja | Dissertation / Laboratory of Physics, Helsinki University of Technology, ISSN 1455-1802; 104. |
Luokitus | |
Aiheet | |
Valmistaja | (Libella) |
Lisätiedot | Hannu Kauppinen |
ISBN |
951-22-3761-X nidottu |
Standardinumero |
TKK-DISS-1190 |
Hae kokoteksti |