Development of instrumentation and methods for positron spectroscopy of defects in semiconductors
Development of instrumentation and methods for positron spectroscopy of defects in semiconductors
Saved in:
Genre | |
---|---|
Physical Description |
Julkaistu myös verkkoaineistona (ISBN 951-22-5468-9, PDF) iv, 31, [57] sivu : kuvitettu ; 25 cm |
Language |
English |
Item Description |
Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 6 eripainosta. |
Published |
Espoo :
Helsinki University of Technology,
2001
|
Dissertation Note | Väitöskirja : Teknillinen korkeakoulu, Espoo |
Series | Dissertation / Laboratory of Physics, Helsinki University of Technology, ISSN 1455-1802; 113. |
Classification | |
Subjects | |
Manufacturer | (Otamedia) |
Additional Information | Jaani Nissilä |
ISBN |
951-22-5467-0 nidottu |
Get full text |