Excess coincidences of spontaneous and stimulated x rays
Finna-arvio
Excess coincidences of spontaneous and stimulated x rays
Tallennettuna:
Ulkoasu |
16, [2] sivua ; 26 cm |
---|---|
Kieli |
englanti |
Julkaisija |
Espoo :
Helsinki University of Technology, Metrology Research Institute,
2003
|
Sarja | Metrology Research Institute report, ISSN 1237-3281; 22. |
Luokitus | |
Valmistaja | (Helsinki : Picaset) |
Lisätiedot | E. Ikonen |