TY  - GEN
TY  - GEN
T1  - Elastic deformation and X-ray diffraction properties of toroidally bent crystal wafers
T2  - Report series in physics
A1  - Honkanen, Ari-Pekka, 1990- kirjoittaja
LA  - eng
PP  - Helsinki
PB  - University of Helsinki
YR  - 2020
UL  - https://kansalliskirjasto.finna.fi/Record/fikka.5468940
AB  - Tiivistelmä.
NO  - Artikkeliväitöskirjan yhteenveto-osa ja 4 eripainosta.
SN  - 978-951-51-6915-0 nidottu
KW  - röntgensäteily
KW  - laskentamenetelmät
KW  - spektrometrit
KW  - röntgenlaitteet
KW  - mittausmenetelmät
ER  -