Application of the x-ray spectroscopic method to texture measurements
Finna-arvio
Application of the x-ray spectroscopic method to texture measurements
Tallennettuna:
Ulkoasu |
18 lehteä : kuvitettu ; 4:o |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Huomautukset |
Moniste |
Julkaisija |
Otaniemi :
Valtion teknillinen tutkimuskeskus,
1972
|
Sarja | Tiedonanto / Valtion teknillinen tutkimuskeskus, reaktorilaboratorio, ISSN 0355-3663; 16 |
Luokitus | |
Valmistaja | (VTT offset) |
Lisätiedot | Jerzy Szpunar, Matti Ojanen |